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檢測的部分標(biāo)準(zhǔn)

環(huán)境試驗設(shè)備試驗標(biāo)準(zhǔn)匯總
 ISTA PROJECT 2A 運輸規(guī)范-低于 45.36kg(100 磅) 之外銷運輸
 GB/T 4857.23—2003 包裝 運輸包裝件 隨機(jī)振動試驗方法
 GB/T 4857.7—92 ISO2247—1985 包裝 運輸包裝件 正弦定頻振動試驗方 法
 GB 18802.1—2002/IEC 61643—1:1998 低壓配電系統(tǒng)的電涌保護(hù)器(SPD) 性能要求和試驗方法
 振動試驗臺原理機(jī)構(gòu)圖
 GB/T 2423.3—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Ca:恒定濕熱試驗
方法
 GB/T 2423.4—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Db:交變濕熱試驗 方法
 GB 2423.18—85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kb:交變鹽霧試驗 方法(鹵化鈉溶液)
 GB 2423.20—81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kd:接觸點和連接 件的硫化氫試驗方法
 GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗試驗 Q:密封
 GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗 試驗 Sa:模擬地面上的太
陽輻射
 GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗 試驗 Ea 和導(dǎo)則:沖擊
 GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗 試驗 Ed:自由跌落
 GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/AM:低溫/低氣
壓綜合試驗
 GB/T 2423.27—81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/AMD:低溫/低氣
壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
 GB/T 2423.26—92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
 GB/T 2423.1—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 A:低溫試驗方法
 GB/T 2423.33—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kca:高濃度二氧 化硫試驗方法
 G85—98改良后鹽霧試驗的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程(美國材料試驗協(xié)會)
 聯(lián)邦快遞運輸標(biāo)準(zhǔn)
 QC/T 413 2002 汽車電器設(shè)備基本技術(shù)條件標(biāo)準(zhǔn)
 JIS Z2371:2000 鹽水噴霧試驗方法 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
 圖層性能測試方法
 瓦楞紙箱 Corrugated box 相關(guān)設(shè)備
 溫度沖擊試驗標(biāo)準(zhǔn)的介紹和分析
 GB/T 2423.3—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗 試驗 Ca:恒定濕熱試驗方法
 GB/T 2423.2—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 B:高溫試驗方法